| 000 | 00638cam0a2200169 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 010 |
_a2040187979 _bbr. |
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| 073 | 0 | _a9782040187972 | |
| 090 |
_a76356 _976356 |
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| 100 | _a20090903d u||y0frey5050 ba | ||
| 101 | _afre | ||
| 200 | 1 |
_aAnalyse structurale et chimique des matériaux _bLIVR _eDiffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique _fJean-Pierre Eberhart,... |
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| 210 |
_aParis _cDunod _d1989 _e54-Nancy _gImpr. Berger-Levrault |
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| 215 |
_a614 p. _cill., couv. ill.en coul. _d26 cm |
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| 700 | 1 |
_aEberhart _bJean-Pierre _4070 |
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| 720 | _4070 | ||
| 721 | _4070 | ||
| 722 | _4070 | ||