Analyse structurale et chimique des matériaux [ Livre] : Diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique / Jean-Pierre Eberhart,...
Langue : français.Publication : Paris : Dunod, 1989, 54-Nancy : Impr. Berger-LevraultDescription : 614 p. : ill., couv. ill.en coul. ; 26 cmISBN : 2040187979. Ce document apparaît dans la/les liste(s) : K3Yssi books| Type de document | Site actuel | Cote | Statut | Date de retour prévue |
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